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Browsing "전기전자공학과" by Keyword : Terahertz, Nondestructive Inspection, Resonant Slit-type Probe, Rounded Matching Structure, Multi-chip Package

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2018 라운드 매칭 구조를 가지는 공진형 슬릿 프로브를 이용한 다중 칩 패키지 검사를 위한 테라헤르츠파 비파괴 검사 방법에 관한 연구 전태인 ;  김근주 ;  Kim Geun Ju et al
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