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GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 밗승환 | - |
| dc.contributor.author | 장지호 | - |
| dc.contributor.author | 김정진 | - |
| dc.contributor.author | 오동철 | - |
| dc.contributor.author | 김홍승 | - |
| dc.contributor.author | 양민 | - |
| dc.contributor.author | 이정윤 | - |
| dc.contributor.author | 정미나 | - |
| dc.date.accessioned | 2017-02-21T07:06:45Z | - |
| dc.date.available | 2017-02-21T07:06:45Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.date.submitted | 2011-10-13 | - |
| dc.identifier.uri | http://repository.kmou.ac.kr/handle/2014.oak/4749 | - |
| dc.publisher | 한국해양대학교 산업기술연구소 | - |
| dc.title | GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향 | - |
| dc.type | Article | - |
| dc.citation.title | 연구논문집 | - |
| dc.citation.startPage | 27 | - |
| dc.citation.endPage | 32 | - |
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