경사 대향 타겟식 마그네트론 스퍼터링법에 의한 저온 ITO박막의 제작
DC Field | Value | Language |
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dc.contributor.author | 辛道勳 | - |
dc.date.accessioned | 2017-02-22T05:22:27Z | - |
dc.date.available | 2017-02-22T05:22:27Z | - |
dc.date.issued | 2002 | - |
dc.date.submitted | 56797-10-27 | - |
dc.identifier.uri | http://kmou.dcollection.net/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000002173785 | ko_KR |
dc.identifier.uri | http://repository.kmou.ac.kr/handle/2014.oak/8611 | - |
dc.description.abstract | The In₂O₃-SnO₂, ITO, thin film is a transparent conductive film. And the ITO film is one of the materials for widely practical usage in the optical electron field.. Because the ITO film has high transparency in visible spectral region and low electrical resistivity, it has excellent electromagnetic shielding effectiveness. In this study, the ITO film was prepared onto plastic film substrate at room temperature by the inclination opposite target type DC magnetron sputtering equipment, in which a metallic indium tin alloy target was used . The effects of oxygen gas flow rate and bias voltage on the electrical resistivity and transparency of the ITO film were discussed. For low electrical resistivity of the ITO film, the electromagnetic shielding effectiveness was studied. The results obtained were as follows: (1)The ITO film produced at room temperature had amorphous structure with very smooth surface. (2)The electrical resistivity of ITO film deposited at room temperature showed minimum value at the oxygen gas flow rate of 0.4sccm. (3)The electrical resistivity of ITO film deposited at room temperature depended on the bias voltage and showed the minimum value in the bias voltage of -70V (5)When the bias voltage was -70V, the ITO film deposited at room temperature showed the most electromagnetic shielding effectiveness (21dB) | - |
dc.description.tableofcontents | 목차 ABSTRACT 제1장 서론 = 1 제2장 기본 이론 = 3 2.1 투명 전도막의 기초적 성질 = 3 2.2 투명 전도막의 전기적 성질 = 6 2.3 투명 전도막의 광학적 성질 = 10 2.4 투명 전도성 재료의 제조 방법 = 12 2.5 전자파의 개요 및 차폐관련 표면 처리 기술 = 15 2.5.1 전자파의 개요 및 차폐 = 15 2.5.2 차폐관련 표면 처리 기술 = 21 2.6 아몰퍼스의 정의, 분류 및 제작 방법 = 23 2.7 ITO막제작을 위한In 및 Sn의 물성 = 25 2.7.1 In의 물성 = 25 2.7.2 주석(Sn)의 물성 = 26 제3장 실험 방법 = 28 3.1 ITO 박막의 제작 = 28 3.1.1 실험 장치 = 28 3.1.2 실험 재료 = 29 3.1.3 박막 제작 방법 = 32 3.2 ITO 박막의 특성 분석 및 평가 = 34 3.2.1 박막의 결정 구조 분석 = 34 3.2.2 표면의 몰포로지 관찰 = 34 3.2.3 박막의 두께 측정 = 35 3.2.4 ?美렝? 전기 비저항 측정 = 36 3.2.5 박막의 투과율 측정 = 37 3.2.6 박막의 전자파 측정 = 39 3.2.6.1 TRI17302 실드 평가기 = 39 3.2.6.2 스펙트럼 분석기 = 41 제4장 결과 및 고찰 = 42 4.1 저온 중 산소변화량에 의한 막의 특성변화 = 42 4.2 저온 중 이온충격에 의한 막의 특성 변화 = 47 4.3 저온에서 제작한 막의 기판위치에 따른 저항률변화 = 53 4.4 저온에서 제작한 막의 차폐효과 = 56 제5장 결론 = 59 참고문헌 = 61 | - |
dc.publisher | 한국해양대학교 | - |
dc.title | 경사 대향 타겟식 마그네트론 스퍼터링법에 의한 저온 ITO박막의 제작 | - |
dc.title.alternative | Deposition of ITO Thin Film at Low-Temperature by Inclination Opposite Target Type DC Magnetron Sputtering Method | - |
dc.type | Thesis | - |
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