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GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향

Title
GaN 후막의 구조적 결함이 전기적 특성에 미치는 영향
Author(s)
밗승환장지호김정진오동철김홍승양민이정윤정미나
Publication Year
2006
Publisher
한국해양대학교 산업기술연구소
URI
http://repository.kmou.ac.kr/handle/2014.oak/4749
Appears in Collections:
연구소 > 산업기술연구소
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